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日置HIOKI 3532-50 LCR测试仪
日置HIOKI 3532-50 LCR测试仪
  • 仪器品牌测试仪
  • 仪器品牌日本日置
  • 仪器型号3532-50
  • 频率范围42Hz~5MHz
  • 加工定制
  • 税票可开

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日置HIOKI 3532-50 LCR测试仪

 详情说明
日置HIOKI 3532-50 LCR测试仪 5MHz 数字电桥

产品型号:日本日置HIOKI3532-50 LCR测试仪 简单介绍
日本日置HIOKI3532-50 LCR测试仪 说明:LCR测试仪 3532-50元器件测量,LCR测试仪 3532-50搭配宽幅测试频率的阻抗测试仪,HIOKI3532-50 LCR测试仪 测试频率可在42Hz~5MHz宽广频率量程内以4位精确度自由调整,可很容易地测试被测物在高频量程内的特性。HIOKI3532-50 LCR测试仪 操作非常简便,改变设置时通过触模屏幕,所需的设定选项会顺序排列显示出来,LCR测试仪

3532-50基本参数
日本日置HIOKI3532-50 LCR测试仪/HIOKI 3532-50LCR测试仪的详细介绍
日本日置HIOKI3532-50 LCR测试仪 说明:
LCR测试仪3532-50元器件测量
LCR测试仪3532-50搭配宽幅测试频率的阻抗测试仪

测试频率可在42Hz~5MHz宽广频率量程内以4位精确度自由调整
可很容易地测试被测物在高频量程内的特性。操作非常简便,改变设置时通过触模屏幕,所需的设定选项会顺序排列显示出来 日本日置HIOKI 3522-50 LCR测试仪的基本参数
测量参数  Z,Y,θ,Rp(DCR),Rs(ESR,DCR), G,X,B,Cp,Cs,Lp,Ls,D(tanδ)和Q
测量方法   测量源:恒流10μ~100mA(ACDC),
或恒压10mV~5V(ACDC),检测: 电压,AC或DC
测量频率   DC或者1mHz~100kHz
测量量程   Z,R,X:10.00mΩ~200.00MΩ(视条件而定)
θ-180.00~+180.00°,C 0.3200pF~1.0000F,
L 16.000nH~750.00kH, D0.00001~9.99999
Q 0.01~999.99, Y,G,B 5.0000nS~99.999S
基本精度   Z ± 0.08%rdg.,θ ± 0.05°
测量时间 Z的典型值 快速5ms~慢速828ms
显示  显示值99999,LCD背光功能
比较器功能  设定:上、下限值。
输出:3档(高,中,低),开路集电极
外部打印   9442(搭配944394469593-01)
电源供应   100~240V,AC,5060Hz
体积及重量  313宽 × 125高 × 290厚mm,4.5kg
附件     电源线(1),保险丝(1)

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